SRM 1761a 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于評估化學(xué)和儀器分析方法以及校準(zhǔn)儀器分析方法。 SRM 1761a 的每個單元由一個直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

測試面是與標(biāo)簽面相對的一面，標(biāo)簽面包括SRM號。整個單位的厚度是認(rèn)證的。但是，在使用x射線熒光光譜法時，警告用戶不要測量厚度小于2mm的磁盤。每個包裝磁盤都是通過銑床對測試表面進行精加工來制備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。用戶在重新表面處理磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染磁盤表面。NIST發(fā)現(xiàn)，在表面磨削過程中，必須經(jīng)常更換磨紙。用過的紙失去了從鋼表面去除污染物的能力。不使用時，應(yīng)將SRM 1761a 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品材料保存在其原始容器中，并放置在陰涼干燥的地方。這種材料使用固態(tài)磁盤和從磁盤制備的芯片進行了測試。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的整體平均成分。

計劃、準(zhǔn)備、測試和分析

SRM 1761a 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品的材料在賓夕法尼亞州雷丁的CarpenterTechnology Corporation進行真空感應(yīng)熔化，然后進行真空電弧重熔。錠由卡彭特技術(shù)加工，以提供低不均一性的材料。1989年，srm 1761的原始準(zhǔn)備、認(rèn)證和發(fā)布所涉及的技術(shù)和支持方面由P. A. Lundberg通過NIST標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)計劃進行協(xié)調(diào)。導(dǎo)致SRM 1761認(rèn)證的技術(shù)測量的整體協(xié)調(diào)是在ASTM/NIST研究助理計劃的研究助理（退休）J.I. Shultz的指導(dǎo)下進行的。

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