SRM 2940a 熒光光譜的相對強度校正標準：橙色發(fā)射旨在用于評估和校準具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應度，并用于確定日?；騼x器到儀器的強度變化單個或類似的熒光儀器。此 SRM 已通過相對校正發(fā)射光譜 E 的認證，以相對能量單位表示，發(fā)射波長 λEM = 500nm 至 800nm，波長間隔為 1nm，固定激發(fā)波長 (λEX) 為 412nm。 SRM 的定位應使激發(fā)光束垂直并居中于一個拋光面，并且發(fā)射從相鄰拋光面的中心收集，與激發(fā)光束成 90°。長霜面應背對檢測系統(tǒng)。每個 SRM 的頂面都刻有自己的序列號，使用時應朝上。磨砂面可以與正面或落射熒光幾何形狀一起使用，或者拋光面可以與上述不同的幾何形狀一起使用；但是，在這些情況下，認證值成為參考值。該 SRM 由一塊比色杯形的實心玻璃組成。

使用說明用戶警告：

SRM 2940a 熒光光譜的相對強度校正標準：橙色發(fā)射及其認證值不能用于脈沖光源熒光光譜儀的光譜校正。認證值不能應用于使用脈沖光源的儀器。對于檢測系統(tǒng)響應性的校正：使用標準試管架將SRM放置在穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的樣品位置，長磨砂面背對檢測系統(tǒng)。激發(fā)光束應水平居中于SRM的入口和出口面。應在25.0°C±0.5°C的溫度下使用SRM進行測量。將激發(fā)和發(fā)射帶寬設置為盡可能接近3nm，并將激發(fā)波長設置為412nm。使用1nm的增量從500nm到800nm掃描發(fā)射單色儀。收集檢測系統(tǒng)信號，如果可能的話，收集每個點的同時激發(fā)強度。如果可能的話，通過將前者除以后者來校正測量的熒光信號的激發(fā)強度。通過將所有波長的強度值除以620nm處的強度值來歸一化該光譜。將每個認證值除以其相應的歸一化測量值（最好是校正的激發(fā)強度），以獲得每個發(fā)射波長下檢測系統(tǒng)響應度的校正系數。

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